TIDA-01051
优化 FPGA 利用率和自动测试设备数据吞吐量的参考设计
TIDA-01051
概述
TIDA-01051 参考设计用于演示极高通道数数据采集 (DAQ) 系统（如用在自动测试设备 (ATE) 中的系统）经过优化的通道密度、集成、功耗、时钟分配和信号链性能。利用串行器（如 TI DS90C383B）将多个同步采样 ADC 输出与几个 LVDS 线结合，可显著减少主机 FPGA 必须处理的引脚数量。因此，单个 FPGA 可处理的 DAQ 通道数量大幅增加，而且电路板布线的复杂性也大大降低。
特性
- 两个 20 位 SAR ADC 通道（最多可扩展至 28 个）
- 三级 MUX 树（每个 ADC 最多 64 个通道）
- 利用串行 ADC 输出数据突出显示吞吐量提升情况
- 适用于可重复的高通道数系统的模块化前端参考设计
- 高达 +/-12V 的输入信号（+/-24Vpp 差动）
我们开发的全面组装电路板仅用于测试和性能验证，不可用于销售。
设计文件和产品
设计文件
下载现成的系统文件，加快您的设计过程。
产品
在设计中包括 TI 产品和可能的替代产品。
技术文档
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| 类型 | 标题 | 下载最新的英文版本 | 日期 | |||
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| * | 设计指南 | Ref Design Optimizing FPGA and Data Throughput for High Channel Auto Testers | 2017年 4月 10日 |